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  本產(chǎn)品為光學(xué)儀器(含X射線)的檢測(cè)配置高低溫原位樣品環(huán)境的專用測(cè)試臺(tái)，通過精準(zhǔn)控制樣品臺(tái)溫度實(shí)現(xiàn)樣品快速加熱或冷卻，觀測(cè)和記錄材料隨溫度變化過程中產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)和形貌變化，結(jié)合光學(xué)儀器的檢測(cè)手段采集應(yīng)變數(shù)據(jù)做定量分析。

本產(chǎn)品適用于材料學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、有機(jī)化學(xué)、高分子及納米材料學(xué)針對(duì)材料特性的研究，與各種光學(xué)測(cè)試儀器或電子顯微鏡聯(lián)合使用，用戶可以自由設(shè)定溫度的階段變化，實(shí)現(xiàn)快速的加熱或冷卻樣品，在微觀上觀測(cè)材料的形貌變化，結(jié)合光學(xué)儀器的測(cè)試數(shù)據(jù)可對(duì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化做定量分析。