本產(chǎn)品為光學儀器(含X射線)的檢測配置高低溫原位樣品環(huán)境的專用測試臺,通過精準控制樣品臺溫度實現(xiàn)樣品快速加熱或冷卻,觀測和記錄材料隨溫度變化過程中產(chǎn)生的結構和形貌變化,結合光學儀器的檢測手段采集應變數(shù)據(jù)做定量分析。
本產(chǎn)品為光學儀器(含X射線)的檢測配置高低溫原位樣品環(huán)境的專用測試臺,通過精準控制樣品臺溫度實現(xiàn)樣品快速加熱或冷卻,觀測和記錄材料隨溫度變化過程中產(chǎn)生的結構和形貌變化,結合光學儀器的檢測手段采集應變數(shù)據(jù)做定量分析。
最高溫度 | 350℃ |
最低溫度 | -195℃ |
最大升溫速率 | 30℃/min(標準)/ 150℃/min(全量程) |
最大降溫速率 | 30℃/min |
溫度穩(wěn)定性 | <0.05℃ |
溫度分辨率 | 0.01℃ |
溫控方式 | PID動態(tài)調(diào)節(jié) |
溫度傳感器 | PT100 |
本產(chǎn)品適用于材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料學針對材料特性的研究,與各種光學測試儀器或電子顯微鏡聯(lián)合使用,用戶可以自由設定溫度的階段變化,實現(xiàn)快速的加熱或冷卻樣品,在微觀上觀測材料的形貌變化,結合光學儀器的測試數(shù)據(jù)可對內(nèi)部結構變化做定量分析。