上面兩行顯示了布洛赫型和奈爾型斯格明子的預(yù)期磁圖像,分別使用了圓形、線性水平(LH)和線性垂直(LV)偏振 X 射線。下一行顯示的是掃描透射 X......
X 射線技術(shù)在醫(yī)學(xué)和科學(xué)研究中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,可提供無(wú)創(chuàng)醫(yī)學(xué)成像并深入研究材料。X 射線技術(shù)的最新進(jìn)展使光束更亮、更強(qiáng),并能在實(shí)際條件下(......
如今,CD-SAXS(關(guān)鍵尺寸小角X射線散射)是下一代半導(dǎo)體制造的全行業(yè)測(cè)量技術(shù)。CD-SAXS由NIST研究人員Wen-Li Wu和Joe K......
X射線無(wú)損檢測(cè)是一種用于檢測(cè)材料內(nèi)部缺陷的技術(shù),它在工程領(lǐng)域中應(yīng)用廣泛。在制造過(guò)程中,材料可能會(huì)出現(xiàn)各種缺陷,如氣孔、裂紋、夾雜物等。這些缺陷會(huì)......
在工業(yè)領(lǐng)域中,X射線應(yīng)力分析技術(shù)已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。這種技術(shù)可以幫助工程師們快速準(zhǔn)確地檢測(cè)出材料或構(gòu)件中存在的應(yīng)力缺陷,進(jìn)而幫助他們進(jìn)行更加精......